Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur - Archive ouverte HAL Access content directly
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Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur

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Abstract

Nous proposons une adaptation de la méthode de mesure du champ lointain pour obtenir une caractérisation résolue spectralement notamment pour des diodes semi- conductrices en régime d’émission spontanée amplifiée. Nous décrivons en détail la méthode de mesure mise en place et présentons les résultats obtenus dans le cas d’une diode à hétérostructure.
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295 - Ehlert et al. - Caractérisation résolue spectralement v2.pdf (385.24 Ko) Télécharger le fichier
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hal-03268945 , version 1 (04-07-2021)

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  • HAL Id : hal-03268945 , version 1

Cite

Jannik F. Ehlert, Alain Mugnier, Frederic Grillot. Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur. OPTIQUE, Jul 2021, Dijon, France. ⟨hal-03268945⟩
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