Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur
Abstract
Nous proposons une adaptation de la méthode de mesure du champ lointain pour obtenir une caractérisation résolue spectralement notamment pour des diodes semi- conductrices en régime d’émission spontanée amplifiée. Nous décrivons en détail la méthode de mesure mise en place et présentons les résultats obtenus dans le cas d’une diode à hétérostructure.
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295 - Ehlert et al. - Caractérisation résolue spectralement v2.pdf (385.24 Ko)
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