Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur - Institut Polytechnique de Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur

Résumé

Nous proposons une adaptation de la méthode de mesure du champ lointain pour obtenir une caractérisation résolue spectralement notamment pour des diodes semi- conductrices en régime d’émission spontanée amplifiée. Nous décrivons en détail la méthode de mesure mise en place et présentons les résultats obtenus dans le cas d’une diode à hétérostructure.

Domaines

Optique / photonique Physique [physics]
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Jannik F. Ehlert  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.ip-paris.fr/hal-03268945

Soumis le : dimanche 4 juillet 2021-22:12:37

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

Archivage à long terme le : mardi 5 octobre 2021-18:13:22

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Dates et versions

hal-03268945 , version 1 (04-07-2021)

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  • HAL Id : hal-03268945 , version 1

Citer

Jannik F. Ehlert, Alain Mugnier, Frederic Grillot. Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur. OPTIQUE, Jul 2021, Dijon, France. ⟨hal-03268945⟩

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